LCP-19 Вимірювання дифракційної інтенсивності
Ця експериментальна система підходить для викладання експериментів із загальної фізики в університетах та коледжах. Ключові особливості включають стабільну продуктивність, просту експлуатацію та точне зчитування. Це допомагає студентам зрозуміти основні принципи дифракції Фраунгофера та виміряти розподіл інтенсивності дифракції Фраунгофера. Завдяки цій системі студенти можуть вдосконалити свої практичні експериментальні навички та аналітичні здібності
Технічні характеристики
| Лазер He-Ne | 1,5 мВт @ 632,8 нм |
| Багаторізова плита | 2, 3, 4 і 5 щілин |
| Діапазон переміщення фотоелемента |
80 мм |
| Дозвіл | 0,01 мм |
|
Приймальна одиниця |
Фотоелемент, 20 мкВт ~ 200 мВт |
|
Оптична рейка з основою |
Довжиною 1 м |
| Ширина регульованої щілини | 0 ~ 2 мм регулюється |
- Частини в комплекті
|
Ім'я |
Технічні характеристики / номер деталі |
Кількість |
| Оптична рейка | Довжина 1 метр, чорний анодований |
1 |
| Перевізник |
2 |
|
| Перевізник (переклад x) |
2 |
|
| Перевізник (переклад xz) |
1 |
|
| Поперечний етап вимірювання | Ход: 80 мм, точність: 0,01 мм |
1 |
| Лазер He-Ne | 1,5 мВт @ 632,8 нм |
1 |
| Лазерний тримач |
1 |
|
| Тримач об’єктива |
2 |
|
| Держатель тарілки |
1 |
|
| Білий екран |
1 |
|
| Лінза | f = 6,2, 150 мм |
По 1 кожному |
| Регульована щілина | 0 ~ 2 мм регулюється |
1 |
| Багаторізова плита | 2, 3, 4 і 5 щілин |
1 |
| Пластина з кількома отворами |
1 |
|
| Трансмісійна решітка | 20 l/ мм, навісний |
1 |
| Підсилювач фотоструму |
1 комплект |
|
| Діафрагма вирівнювання |
1 |
Напишіть тут своє повідомлення та надішліть нам
